薄膜表面瑕疵检测设备的详解

2022-08-13 09:55:05 精质视觉

　　时代的发展，工业的不断进步，随着人们对产品质量要求的不断提高，表面质量检测变得越来越重要。过去，许多表面质量检测方法都依赖于人工检测，这种检测方法效率低下，受人类情感的影响，利用机器视觉来检测表面质量是一种很好的方法。

　　传统的检测方法，如人工目测取样，速度慢、精度低、易疲劳，不能满足工业生产中高速、高分辨率、无损检测的要求。在胶片生产过程中，由于生产工艺和现场环境的影响，容易造成胶片表面出现黑斑、晶斑、划痕、孔洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷。这些缺陷不仅影响薄膜产品的外观，更重要的是降低薄膜的性能。如何及时检测出薄膜表面的缺陷，消除产生的根源，控制和提高薄膜表面质量一直是薄膜企业追求的目标。与传统的视觉检测相比，基于CCD的薄膜表面缺陷检测系统具有快速、可靠、准确、实时在线检测、自动报警和显示当前缺陷具体信息等优点，以便及时处理。

　　精质视觉薄膜表面瑕疵检测设备原理：

　　视觉系统的输出不是图像视频信号，而是算术处理后的检测结果(诸如缺陷、尺寸等数据)。一般来说，机器视觉检查是使用机器而不是肉眼来进行测量和判断。首先，CCD相机用于将被捕获的对象转换成图像信号，该图像信号被传输到专用图像处理系统，并根据像素分布、亮度、颜色等信息转换成数字化信号。

　　精密光谱薄膜缺陷检测仪技术参数:

　　检验对象:保护膜、镀膜、PE膜、食品包装膜、太阳膜、光学膜等。

　　典型存在瑕疵：晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等

　　检测速度：最大800m/min

　　检测宽度: 任意(可根据生产线定制)

　　检测系统精度：0.1mm~1mm(取决于教师相机进行数量、产线幅宽及车速)

　　瑕疵标识：自动控制声光报警、截取我们当前存在瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图可以显示

　　历史记录：根据批次号，自动记录每卷胶片缺陷的图片、尺寸、分布等信息

　　精密光谱薄膜缺陷探测器功能:

　　精确的缺陷坐标(x，y坐标)定位和显示;